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  • 非破壞檢測系統(tǒng) 查看詳細介紹

    非破壞檢測系統(tǒng)用途:小型電子元件、模制品、樹脂、GFRP、CFRP、纖維等 這是一種緊湊的高性能微型CT,采用高靈敏度的X射線檢測器,可對低吸收(比重小)的物體進行高對比度、高分辨率成像的裝置。

    更新時間:2024-02-03

    廠商性質:代理商

    產品型號:TXS-31300FD

  • 非破壞檢測系統(tǒng) 查看詳細介紹

    非破壞檢測系統(tǒng)用途:小型電子元件、模制品、樹脂、GFRP、CFRP、纖維等 這是一種緊湊的高性能微型CT,采用高靈敏度的X射線檢測器,可對低吸收(比重小)的物體進行高對比度、高分辨率成像的裝置。

    更新時間:2024-02-03

    廠商性質:代理商

    產品型號:TXS-30900FD

  • 非破壞檢測系統(tǒng) 查看詳細介紹

    非破壞檢測系統(tǒng)是一種能分析小型精密零件、電子零件等內部狀況的微聚焦X射線檢查裝置。 用于電路板、電子器件、小型連接器、車載用小型電子部件等。

    更新時間:2024-02-03

    廠商性質:代理商

    產品型號:TXV-S4130FD

  • 非破壞檢測系統(tǒng) 查看詳細介紹

    非破壞檢測系統(tǒng)是一種能分析小型精密零件、電子零件等內部狀況的微聚焦X射線檢查裝置。 用于電路板、電子器件、小型連接器、車載用小型電子部件等。

    更新時間:2024-02-03

    廠商性質:代理商

    產品型號:TXV-S4090FD

  • 晶體方位檢測系統(tǒng) 查看詳細介紹

    晶體方位檢測系統(tǒng)用途單晶硅/晶圓的結晶方位測量,支持Si、藍寶石、GaAs、GaP、InP、InSb、SiC等化合物。側角機構可以高精度地測定單結晶錠和晶片的結晶方位、外觀和外形。

    更新時間:2024-02-20

    廠商性質:代理商

    產品型號:SU-001

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